Sección
XVIII
Instrumentos de óptica, fotografía y relojería
Capítulo
90
Instrumentos ópticos y de precisión
Partida
90.30
Instrumentos y aparatos para medida o detección de radiaciones ionizantes.
SubPartida
90.30.82
Para medida o control de obleas ("wafers") o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos i
Fracción
9030.82.01
Para medida o control de obleas ("wafers") o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados).

Detalle de la fracción 9030.82.01

DescripciónPara medida o control de obleas ("wafers") o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados).
Unidad de medidaPza
IGI ImportaciónExento
IGI ExportaciónExento
IEPSNo aplica
SecciónSección XVIII — Instrumentos de óptica, fotografía y relojería
CapítuloCapítulo 90 — Instrumentos ópticos y de precisión

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